可调加热激光器首先设置为低功率（表示为应用于激光源的电压V），而不是分析激光熔化后所有释放的XE。将每个加热平台保存几分钟，并使用方法部分中描述的相同的一般协议通过质谱分析释放的XE。对橄榄石和sanidine 1样品进行了少数尝试。它们都指向XE主要在融合点（或接近）处退出材料。如本图所述，只有两个对Sanidine的S1-11D，具有1％Xe气体的S1-11D和1％XE气体的S1-11D，带有100％XE气体的S1-19B，导致了ΔN和[XE]值的所有加热步骤的成功测量，如本图所示。每个点区域与在加热高原上提取的XE含量（[XE]）成正比。恒星是ΔN值，结合了每个[Xe]测量和加权的所有Δn，换句话说，如果样品片段直接熔化，我们将测量的ΔN。对于S1–11D（1％XE气体），我们观察到ΔN的变化沿加热坡道大约2倍。对于同一样品，最低的激光电压证明了一个未分流的成分，但代表边缘部分（占XE总释放的5.3％）。由于对于类似的加热能力，释放了S1-19B（100％XE气体）的总XE的约45％，因此这种低t释放可能与XE被困为气泡有关。在最高的t（即在样品熔点处，对于S1-19B和S1-11D），测量了0.54±0.12‰/AMU和0.61±0.11‰/AMU分馏，这指向XE组件的XE组件，具有一定的分级XE，但仍具有较低的整体测量分数。这间接证实了XE化学掺入和相关的同位素分馏均在T≤1,100°C制备的所有样品中发生； 对于用100％XE气体制备的样品，ΔN接近零是由于一种破坏性现象，其范围与XE二压成正比：矿物质的过度饱和（如图3所示，气泡形成，如图3所示）。在补充信息文件中给出的S111D和S1-19B的结果表中找到了用于构建此数字的详细数据，而综合条件则在扩展数据表1中找到

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